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半导体器件检查用弹簧探针

半导体器件检查用弹簧探针

半导体器件检查用弹簧探针，测试间距涵盖0.15mm至1mm，开尔文、非磁性、高频率、大电流、高温等特殊测试条件也能广泛的对应。

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