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开尔文探针
开尔文探针可以使用两支探针同时接触半导体器件的一个测试点位。是一种适用于高精度检查的四端子测量探针。可以满足0.25、0.3、0.4、0.5mm间距的测试需求。
Pitch 0.25mm × Length 4.15mm.pdf
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Pitch 0.3mm × Length 4.5mm.pdf
Pitch 0.4mm × Length 3.9mm.pdf
Pitch 0.5mm × Length 5.5mm.pdf
